產(chǎn)品詳情
HP4145B半導(dǎo)體參數(shù)分析儀設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體的生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室，HP4145B是電子工業(yè)中 個(gè)可以獨(dú)立對半導(dǎo)體器件和材料進(jìn)行直流參數(shù)的儀器。
HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓并將測試結(jié)果顯示在內(nèi)置的CRT顯示器上，結(jié)果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。
主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)：
在350μs之內(nèi)就可以完成接觸檢測驗(yàn)證與報(bào)告，有利于保持高速生產(chǎn)效率
可以通過該儀器的前置面板或通過GPIB遠(yuǎn)程控制接觸檢測操作
內(nèi)置的“源存儲器”可編程序列發(fā)生器 多可存儲100個(gè)不同的測試，以滿足高速生產(chǎn)的需要
高達(dá)75000小時(shí)MTBF的可靠性設(shè)計(jì)，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性
內(nèi)置的比較器簡化了pass/fail測試
數(shù)字I/O支持快速鍵合或連接到元件機(jī)械手
0.012%的 度，5?的分辨率
HP4145B簡介:
產(chǎn)品名稱：半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
產(chǎn)品型號：HP4145B
產(chǎn)品品牌：美國惠普/HP
HP4145B半導(dǎo)體參數(shù)分析儀設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體的生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室
HP4145B是電子工業(yè)中可以獨(dú)立對半導(dǎo)體器件和材料進(jìn)行直流參數(shù)的儀器。
HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓并將測試結(jié)果顯示在內(nèi)置的
CRT顯示器上，結(jié)果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。
HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓并將測試結(jié)果顯示在內(nèi)置的CRT顯示器上，結(jié)果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。
主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)：
在350μs之內(nèi)就可以完成接觸檢測驗(yàn)證與報(bào)告，有利于保持高速生產(chǎn)效率
可以通過該儀器的前置面板或通過GPIB遠(yuǎn)程控制接觸檢測操作
內(nèi)置的“源存儲器”可編程序列發(fā)生器 多可存儲100個(gè)不同的測試，以滿足高速生產(chǎn)的需要
高達(dá)75000小時(shí)MTBF的可靠性設(shè)計(jì)，為不中斷生產(chǎn)環(huán)境提供了良好的可靠性
內(nèi)置的比較器簡化了pass/fail測試
數(shù)字I/O支持快速鍵合或連接到元件機(jī)械手
0.012%的 度，5?的分辨率
HP4145B簡介:
產(chǎn)品名稱：半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
產(chǎn)品型號：HP4145B
產(chǎn)品品牌：美國惠普/HP
HP4145B半導(dǎo)體參數(shù)分析儀設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體的生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室
HP4145B是電子工業(yè)中可以獨(dú)立對半導(dǎo)體器件和材料進(jìn)行直流參數(shù)的儀器。
HP4145B通過對器件加電壓，測電流，HP4145B或加電流測電壓并將測試結(jié)果顯示在內(nèi)置的
CRT顯示器上，結(jié)果可根據(jù)用戶需要顯示為圖形、表格、矩陣等等。
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鄧：135-1015-2816（v同）
彭：158-1859-4082（v同）
